LSP ITNY Gelar Pleno Upgrading Materi Uji Kompetensi

Lembaga Sertifikasi Profesi (LSP) Institut Teknologi Nasional Yogyakarta (ITNY) menyelenggarakan rapat pleno untuk penyusunan Upgrading Materi Uji Kompetensi (MUK) dibimbing oleh Master Asesor dari Badan Nasional Sertifikasi Profesi (BNSP), Dewi Kusuma Wardani.

Kegiatan ini diselenggarakan di Ruang pertemuan lantai 3 gedung Rektorat ITNY dengan protokol kesehatan yang ketat pada 25 dan 26 Januari 2022.  

Rektor ITNY sekaligus pengarah LSP ITNY, Dr Ircham, MT mengatakan bahwa MUK ini menjadi dasar untuk menguji kompetensi mahasiswa ITNY agar dapat diakui dalam dunia kerja.

Selain itu, Ircham juga  mengarahkan bahwa MUK menjadi lebih operasional dan sesuai format yang disyaratkan BNSP. 

“Dengan diplenokannya MUK LSP ITNY maka LSP ITNY siap melaksanakan uji kompetensi sesuai pedoman BNSP versi terbaru”, jelas Ircham.

Dewi menekankan bahwa selain penyesuaian terhadap kebijakan BNSP, penyusunan MUK merupakan kewajiban dari asesor sebagai syarat perpanjangan lisensi asesor dari LSP ITNY. 

Kepala LSP ITNY, Diah Suwarti, ST, MT menjelaskan  bahwa LSP ITNY sudah mendapatkan sertifikat lisensi dari BNSP sejak tahun 2016 dan telah melakukan relisensi pada tahun 2019.

Lisensi LSP ITNY berlaku selama kurun waktu 5 tahun hingga tahun 2024. 

Dalam keterangannya, Instrumen utama dalam pelaksanaan uji kompetensi yakni MUK.

Dengan adanya kebijakan dari BNSP terkait penyesuaian format materi uji kompetensi, maka LSP ITNY wajib memperbaharuinya atau upgrading. 

Diah menambahkan bahwa Upgrading MUK LSP ITNY dilaksanakan selama 2 bulan sebanyak 17 skema oleh 21 asesor ITNY

Artikel ini telah tayang di TribunJogja.com dengan judul LSP ITNY Gelar Pleno Upgrading Materi Uji Kompetensi, https://jogja.tribunnews.com/2022/02/02/lsp-itny-gelar-pleno-upgrading-materi-uji-kompetensi.

Lembaga Sertifikasi Profesi (LSP) Institut Teknologi Nasional Yogyakarta (ITNY) menyelenggarakan rapat pleno untuk penyusunan Upgrading Materi Uji Kompetensi (MUK) 
0 replies

Leave a Reply

Want to join the discussion?
Feel free to contribute!

Leave a Reply

Your email address will not be published. Required fields are marked *